分析用語(定量限界・検出限界・添加回収率・ブランク試験など)
分析用語
定量限界(Method Quantitation Limit : MQL)
適切な精確さをもって定量できる分析種(測定対象成分)の最低量または最小濃度S/N (分析対象物のシグナルとベースラインノイズの比)=概ね10 となる分析対象物の試料中濃度
検出限界(Method Detection Limit : MDL)
試料に含まれる分析種(測定対象成分)の検出可能な最低量または最小濃度
S/N (分析対象物のシグナルとベースラインノイズの比)=3 となる分析対象物の試料中濃度 ※定量限界の1/2~1/10の範囲
添加回収率(Marginal recovery)
試料に既知濃度の物質を添加し、処理後検出された濃度の割合
Marginal recovery ( % ) = 100(Cf-Cu)/CA
Cf : 添加後の濃度 Cu : 添加前の濃度 CA : 添加濃度
ブランク試験(Blank Tes)
操作ブランク試験(試料のない状態での一連の操作データ測定)
※試薬・器具・装置あるいは環境からの汚染が無いことを確認する試験
装置ブランク試験(試料のない状態でのデータ測定)
※装置の汚染が無いことを確認する試験
標準物質(Reference Material : RM)
測定装置の校正、測定方法の評価又は、材料に値を付与する事に用いるために 1つ以上の特性値が十分に均一で、適切に確定されている材料又は物質(JIS Q 0030:1997 , ISO Guide 30:1992)
質量(mass)とm/z
h = 水素の質量 (1H の monoisotopic mass) 1.007825 [u]
e = 電子の質量 0.000549 [u]
H+ の質量は h - e = 1.007276 [u]
分子質量 = M とすれば
H+ adduct
[M+H]+(1価イオン)の mass = M + h -e m/z = mass
[M+2H]2+(2価イオン)の mass = M + 2h - 2e m/z = mass/2
[M+nH]n+(n価イオン)の mass = M + n(h - e) m/z = mass/n
H-
[M-nH]n- mass = M - nh + ne m/z = mass/n = M - n(h - e)
S/N図
分析用語及び装置名略語
AA(S) 原子吸光光度計 HPLC-MS or
HPLC-MS/MS高速液体クロマトグラフ質量分析計 AEM 分析電子顕微鏡装置 MS 質量分析装置 AES オージェ電子分光装置 NIR 近赤外分光光度計 AFM 原子間力顕微鏡装置 NMR 核磁気共鳴装置 CD 円二色性分散計 PCR 複製連鎖反応装置(サーマルサイクラ) CE キャピラリー QMS 四重極形質量分析装置 CGE キャピラリーゲル電気泳動装置 RBS ラザフォード後方散乱分光装置 CLD 化学発光検出器 RSS ラマン散乱分光装置 CZE キャピラリーゾーン電気泳動装置 SAES 走査形オージェ電子分光計 DNA デオキシリボ核酸アナライザー HPLC-SEC(GPC) サイズ排除クロマトグラフ DSC 示差走査熱量計 SEM 走査形電子顕微鏡装置 DTA 示差熱分析装置 SEM/EDX エネルギー分散型走査電子顕微鏡装置 ECD 電子捕獲検出器 SFC 超臨界流体クロマトグラフ ECD 電子化学検出器 SFE 超臨界流体抽出法 EDX エネルギー分散型X線分光計 SIMS 二次イオン質量分析計 EPMA 電子ブローブ型X線マイクロ分析計 SPM 走査プローブ顕微鏡装置 ESR 電子スピン共鳴装置 SR シンクロトロン放射光度装置 FAB 高速原子衝撃イオン化装置 SSD 半導体検出器 FIA フローインジェクション分析法 STM 走査トンネル電子顕微鏡装置 FIB 収束イオンビーム装置 TA 熱分析装置 FID 水素炎イオン化検出器 TEM 熱機械的分析装置 FIM 電界イオン顕微鏡装置 TG 熱重量測定装置 FPD 炎光光度検出器 TLC 薄層クロマトグラフ FT-IR フーリエ変換赤外分光光度計 TMA 熱機械的分析装置 FT-NIR フ-リエ変換近赤外分光光度計 TOF-MS 飛行時間型質量分析計 FT-NMR フーリエ変換核磁気共鳴解析装置 TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析計 FTD 熱イオン化検出器 TRXRF 全反射蛍光X線装置 GC ガスクロマトグラフ UPS 紫外光電子分光装置 GC-MS or
GC-MS/MSガスクロマトグラフ質量分析計 UV/VIS 紫外可視吸光光度計 GD-AES グロー放電発光分光装置 UV 紫外・可視吸光光度法 HPLC 高速液体クロマトグラフ XAFS X線吸収微細構造解析装置 IC イオンクロマトグラフ XD(XRD) X線回折装置 ICP-AES 誘導結合高周波プラズマ発光分光装置 XF(XRF) 蛍光X線解析装置 ICP-MS 誘導結合高周波プラズマ質量分析計 XPS X線光電子解析装置 IR 赤外分光光度計 XRF/EDX エネルギー分散型蛍光X線解析装置 LC 液体クロマトグラフ XRF/WDX 波長分散型蛍光X線装置
PFAS(食品・飲料水・土壌など)
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CW&MW(飲料水)
CW&MW (飲料水・ミネラルウォーター残留農薬検査)
CWは、水質管理目標設定全項目をパッケージ化しています。
MWは、ミネラルウォーターの残留農薬基準が設定されている全項目をパッケージ化しています。
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